T 细胞免疫检测和蛋白芯片技术用于 HIV 感染人群中结核潜伏感染筛查的比较

中国卫生检验杂志, 2015, 25(24)

Chin J Health Lab Tec,Vol.25, No.24

摘要:

目的 探讨结核感染 T 细胞免疫检测和蛋白芯片技术，在 HIV 感染合并结核潜伏感染者中的应用。

方法 用结核感染 T 细胞免疫检测( IGRA) 和蛋白芯片试剂盒对116 例明确诊断 HIV 感染者,进行 γ - 干扰素释放含量和 IGg 抗体检测。

结果 在 HIV 感染者中结核感染 T 细胞免疫检测法( IGRA) 检出阳性率为 21. 6%，蛋白芯片技术检测阳性率为7. 8%，且 2 种方法差异具有统计学意义( χ2= 8. 6，P < 0. 01)。按照 CD4 细胞计数≥200 个 / μl 和 CD4 细胞计数 <200 个 / μl分组，2 组 IGRA 检出阳性率均高于蛋白芯片法的检出阳性率。IGRA 在 2 组中的检出阳性率差异无统计学意义( P >0. 05)。

结论 IGRA 较适用于 HIV/AIDS 患者合并结核潜伏感染的筛查。蛋白芯片法不适用于 HIV/AIDS 患者合并结核潜伏感染的筛查。

关键词:T 细胞免疫检测，蛋白芯片，人类免疫缺陷病毒感染，结核潜伏感染

如您对本篇文献感兴趣，请联系红枫湾助手获取全文。